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晶振是怎样给单片机的CPU和其他片内外设提供时钟的？学了这么多年单片机，从来没有人告诉我们晶振是怎样给单片机的CPU和其他外设提供时钟的，我们都知道只要按照图1用2个电容和1个晶振就能构成时钟电路，但是为什么这样就能产生时钟信号呢？为了说明这个问题，先从图2的电容三点式LC正弦波振荡电路(Colpitts电路)谈起，图2中我分析了振荡频率和起振条件。

测量晶振的负载谐振频率有很多种方法，其中一种就是直接阻抗法，它使用网络分析仪，比物理负载电容法等其它方法更加准确、方便并且成本更低。下面介绍的是如何使用直接阻抗法进行测量并通过实测数据说明它好于其它测量方法的原因。在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC444和EIA512进行Fs/Fr测量没有什么困难，对于负载谐振频率(FL)的测量才是主要问题，特别是负载电容(CL)很低的时候。

所以后来又出现几种新的测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。我们下面先对各种方法作一比较。负载谐振频率测量法，如果已经知道被测器件是一个线性晶振，则可以使用这个方法来测量；但在大多数场合下，需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的，所以计算法不实用，除非你在测试前已经知道晶振是线性的。

测量晶振的负载谐振频率的方法有很多，其中必须要提到的是直接阻抗法，今天扬兴科技特别为大家介绍直接阻抗法和直接阻抗法如何有效测量晶振负载谐振频率。在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC444和EIA512进行Fs/Fr测量没有什么困难，问题主要在于负载谐振频率(FL)的测量，特别是负载电容(CL)很低的时候。

从电路应用的观点看，如果要求加上指定负载电容后达到负载谐振频率，意味着晶振必须在规定的负载谐振频率处表现为一个电感，即被测器件阻抗负载电容阻抗。这是一个基本要求，只要有可能晶振应在完全符合这一要求的条件下进行测试，而不应有任何估计，直接阻抗方法就是基于这一基本原则，这种方法的主要优点是在最终使用的负载电容条件下测量晶振，没有太多估计，因此就算晶振是非线性也不会有什么问题。

量晶振 阻抗 两端 晶振 电阻